دانلود مقاله ترجمه شده با عنوان قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی - الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم، در قالب فایل word و در حجم 10 صفحه، بهمراه فایل pdf اصل مقاله به زبان انگلیسی. پژوهشی برای مقایسه الگوریتم های موازی و خطی انجام شد و ...
برچسب ها:
مقاله ترجمه شده قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی