ترجمه مقاله انگلیسی قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ
قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم
دسته بندی: عمومی »
گوناگون
تعداد مشاهده:
14
مشاهده
فرمت فایل دانلودی:Doc + PDF
فرمت فایل اصلی: Doc + PDF
تعداد صفحات: 10
حجم فایل:882
کیلوبایت
پرداخت و دانلود
قیمت:
11,000 تومان
پس از پرداخت، لینک دانلود فایل برای شما نشان داده می شود.