تمامی فایل های موجود در آپادانا، توسط کاربران عرضه می شود. اگر مالک فایلی هستید که بدون اطلاع شما در سایت قرار گرفته، با شماره 09399483278 با ما تماس بگیرید.
مقاله ترجمه شده تخصصی برق از سایت IEEE

مقاله ترجمه شده تخصصی برق از سایت IEEE

عنوان مقاله:بررسی تاثیر طرح چیدمان محلی BTI شامل تاثیر بهبودی بر روی سلول

دسته بندی: عمومی » گوناگون

تعداد مشاهده: 15 مشاهده

فرمت فایل دانلودی:rar

فرمت فایل اصلی: rar

تعداد صفحات: 12

حجم فایل:1,351 کیلوبایت

  پرداخت و دانلود  قیمت: 48,000 تومان
پس از پرداخت، لینک دانلود فایل برای شما نشان داده می شود.
0 0 گزارش
  • این مقاله یکی از موضوعات جدید و بروز در ضمینه فین فت 10 نانومتر می باشد و مناسب همه دوره ها:کارشناسی،ارشد،دکتری برق می باشد.ترجمه بصورت کاملا روان بوده و اصلا ترجمه ماشینی در آن استفاده نشده.تمامی شکل ها و جداول بصورت مرتب و طبق ترتیب مقاله اصلی بوده و می تواند موضوع مقالات دروس مختلف دانشگاهی باشد.این مقاله از سایت معروف و شناخته شده IEEE می باشد.که معمولا تمامی اساتید با این سایت آشنا هستند.
    تعداد صفحات مقاله اصلی هر صفحه دو ستون و با فونت ریز:4 صفحه
    تعداد صفحات ترجمه:12 صفحه
    فایل ها در قالب فرمت pdf می باشند.
    عنوان لاتین مقاله:Study of Impact of BTI’s Local Layout Effect Including Recovery Effect on Various Standard-Cells in 10nm FinFET
    عنوان فارسی مقاله:بررسی تاثیر طرح چیدمان محلی BTI شامل تاثیر بهبودی بر روی سلول های استاندارد مختلف در فین فت 10 نانومتر

    برچسب ها: مقاله ترجمه شده تخصصی برق
  

به ما اعتماد کنید

تمامي كالاها و خدمات اين فروشگاه، حسب مورد داراي مجوزهاي لازم از مراجع مربوطه مي باشند و فعاليت هاي اين سايت تابع قوانين و مقررات جمهوري اسلامي ايران است.
این سایت در ستاد سازماندهی ثبت شده است.

درباره ما

فروش اینترنتی فایل های قابل دانلود
در صورتی که نیاز به راهنمایی دارید، صفحه راهنمای سایت را مطالعه فرمایید.

تمام حقوق این سایت محفوظ است. کپی برداری پیگرد قانونی دارد.